Elektrónový skenovací mikroskop JEOL 7500F
Kontakt: Ing. Katarína Tomanová, PhD.
email: katarina_tomanova@stuba.sk
Mikroskop umožňuje vďaka svojej konfigurácii reálne zväčšenia 1 000 000x, teda reálne pozorovanie objektov od 1 nm. Kombinácia detektorov poskytuje široké možnosti spracovania obrazu. Gentle beam mód je šetrný k materiálom, ktoré sú termicky citlivé a neznesú vysoké urýchľovacie napätia. Unikátnou je kombinácia s kryogénnym príslušenstvom, ktoré umožňuje merať aj vlhké vzorky alebo disperzie aj za vysokého vákua, čím sa nestráca kvalita obrazu a neznižuje sa rozlišovacia schopnosť mikroskopu. Kryogénny mód je mimoriadne vhodný pre biológiu, zdravotníctvo, ale aj potravinárstvo a celý rad ďalších oblastí, ktoré vyžadujú pozorovanie kvapalných vzoriek pri vysokých zväčšeniach. V kryomóde rovnako ako aj za "normálnych podmienok " je dostupná Rontgenová analýza.